電路板故障檢測儀 型號：ICT-4040UXP-II 

產(chǎn)品特點：
◆好的測試技術(shù)，好的驅(qū)動能力，故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面，不經(jīng)訓練，均可成為維修
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數(shù)字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫；
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進口同類儀器比較，優(yōu)，操作方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試。
◆本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試。

電路板故障檢測儀 型號：ICT-4040UXP-II 

技術(shù)規(guī)格：
并口
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快，效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記
◆[ICT]系列檢測儀檢測更加準確

■ 功能測試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測試
■ 功能測試外供電源穩(wěn)定——各種大、中、小型被測電路板皆可測試
■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負載能力下降故障
■ V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線
■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定
■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試

◆集成電路在線功能測試

本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、
4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲器等千余種集成電路。 1、快速測試：直接
顯示測試結(jié)果，迅速確定可疑IC 2、分析測試：顯示全部測試過程，測試激勵。預(yù)期和實
際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3、器件識別：查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC。

◆集成電路在線狀態(tài)測試

通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進行比較，找出有故障的IC。1、狀態(tài)學習：在線學習無故
障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中 2、狀態(tài)比較：同故障
板上相應(yīng)IC在線進行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫
中的各IC的狀態(tài)資料。

◆集成電路離線功能測試

離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片

◆V/I曲線測試

通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點及故障IC 1、曲線學習：在線
學習*板上各節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫中 2、曲線比較：同故
障板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗曲進行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節(jié)點相關(guān)的IC
是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點的動態(tài)阻抗圖資料大規(guī)模
集成電路分析測試
網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）
4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明
文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可
與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來，隨時用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對測試圖形加
以調(diào)整、修改。

3、4種測試方式：
a）完整執(zhí)行一個測試
b）執(zhí)行一個測試的一部分
c）循環(huán)執(zhí)行
d）單步運行

備注信息：
比舊款的4040/8080增加了以下功能：

◆網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）
4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明
文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可
與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來，隨時用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對測試圖形加
以調(diào)整、修改。

3、4種測試方式：
a）完整執(zhí)行一個測試
b）執(zhí)行一個測試的一部分
c）循環(huán)執(zhí)行
d）單步運行

◆操作系統(tǒng)的兼容性增強